Pada tahun 1920 ditemukan suatu fenomena di mana elektron yang dipercepat dalam suatu kolom elektromagnet, dalam suasana hampa udara (vakum) berkarakter seperti cahaya, dengan panjang gelombang yang 100.000 kali lebih kecil dari cahaya. Selanjutnya ditemukan juga bahwa medan listrik dan medan magnet dapat berperan sebagai lensa dan cermin seperti pada lensa gelas dalam mikroskop cahaya. Kedua penemuan inilah yang merupakan dasar penciptaan mikroskop elektron. Artikel ini menjelaskan tentang mengenal mikroskop elektron.
Ernst Ruska (1906 – 1988) and Bodo von Borries (1905 – 1956)
Seorang ilmuwan dari universitas Berlin yaitu Dr. Ernst Ruska bersama rekannya, Bodo von Borries, menggabungkan penemuan ini dan membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama pada tahun 1931. Untuk hasil karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan menganugerahinya hadiah Penghargaan Nobel dalam fisika pada tahun 1986.
Mikroskop yang pertama kali diciptakannya adalah dengan menggunakan dua lensa medan magnet, namun tiga tahun kemudian ia menyempurnakan karyanya tersebut dengan menambahkan lensa ketiga dan mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan resolusi hingga 100 nanometer (nm) (dua kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa itu). Mikroskop transmisi eletron saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga mampu menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom) atau sama dengan pembesaran sampai satu juta kali.
Meskipun banyak bidang-bidang ilmu pengetahuan yang berkembang pesat dengan bantuan mikroskop transmisi elektron ini, namun adanya persyaratan bahwa obyek yang diamati harus setipis mungkin, membuat sebagian peneliti tidak terpuaskan, terutama yang memiliki obyek yang tidak dapat dibuat setipis mungkin. Dalam perkembangannya masalah ini terpecahkan dengan ditemukannya sebuah alat yang disebut mikrotom. Dengan alat ini spesimen bisa disayat dengan sangat tipis.
Pembuatan preparat untuk mikroskop elektron
Agar pengamat dapat mengamati preparat dengan baik, diperlukan persiapan sediaan preparat. Prinsip penyediaan preparat untuk mikroskop elektron adalah sebagai berikut :
- Melakukan fiksasi : bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur sel yang akan diamati. Fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa glutaraldehida atau osmium tetroksida.
- Pembuatan sayatan : bertujuan untuk memotong spesimen hingga setipis mungkin agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan monomer resin melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan pemotongan menggunakan mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari berlian, karena berlian tersusun dari atom karbon yang padat. Hasilnya, sayatan yang terbentuk lebih rapi. Sayatan yang telah terbentuk diletakkan di atas cincin berpetak untuk diamati.
- Pelapisan/pewarnaan : bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat menggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.
Jenis-jenis mikroskop elektron
Ada banyak macam mikroskop elektron dengan cara kerja yang berbeda pula. Berikut ini adalah jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan saat ini.
Mikroskop pemindai transmisi elektron (STEM)
Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) adalah merupakan salah satu tipe yang merupakan hasil pengembangan dari Transmission Electron Microscopy (TEM).
Pada sistem STEM ini, electron menembus spesimen namun sebagaimana halnya dengan cara kerja SEM. Optik elektron terfokus langsung pada sudut yang sempit dengan memindai obyek menggunakan pola pemindaian dimana obyek tersebut dipindai dari satu sisi ke sisi lainnya (raster) yang menghasilkan lajur-lajur titik (dots) yang membentuk gambar seperti yang dihasilkan oleh CRT pada televisi / monitor.
Mikroskop Pemindai Elektron (SEM)
Scanning Electron Microscopy (SEM) digunakan untuk mengamati detil permukaan sel atau struktur mikroskopik lainnya, dan dan mampu menampilkan pengamatan obyek secara tiga dimensi.
Tidak diketahui secara persis siapa sebenarnya penemu mikroskop pemindai elektron ini. Publikasi pertama kali yang mendiskripsikan teori SEM adalah fisikawan Jerman Dr. Max Knoll pada 1935, meskipun fisikawan Jerman lainnya Dr. Manfred von Ardenne mengklaim dirinya telah melakukan penelitian suatu fenomena yang kemudian disebut SEM hingga tahun 1937. Mungkin karena itu, tidak satu pun dari keduanya mendapatkan hadiah nobel untuk penemuan itu.
Pada 1942 tiga orang ilmuwan Amerika yaitu Dr. Vladimir Kosma Zworykin, Dr. James Hillier, dan Dr. Snijder, membangun sebuah mikroskop elektron metode pemindaian (SEM) dengan resolusi hingga 50 nm atau magnifikasi 8.000 kali. Sebagai perbandingan SEM modern sekarang ini mempunyai resolusi hingga 1 nm atau pembesaran 400.000 kali. Mikroskop elektron ini memfokuskan sinar elektron (electron beam) di permukaan obyek dan mengambil gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan obyek.
Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron baru (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut dipindai dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi.
Mikroskop Elektron Pemindai Lingkungan (ESEM)
Environmental Scanning Electron Microscope (ESEM) ini merupakan pengembangan dari SEM, yang dikembangkan guna mengatasi obyek pengamatan yang tidak memenuhi syarat sebagai obyek TEM maupun SEM.
Obyek yang tidak memenuhi syarat seperti ini biasanya adalah spesimen alami yang ingin diamati secara detil tanpa merusak atau menambah perlakuan yang tidak perlu terhadap obyek, yang apabila menggunakat alat SEM konvensional perlu ditambahkan beberapa trik yang memungkinkan hal tersebut bisa terlaksana.
Teknologi ESEM ini dirintis oleh Gerasimos D. Danilatos, seorang kelahiran Yunani yang bermigrasi ke Australia pada akhir tahun 1972 dan memperoleh gelar Ph.D dari Universitas New South Wales (UNSW) pada tahun 1977 dengan judul disertasi Dynamic Mechanical Properties of Keratin Fibres .
Dr. Danilatos dikenal sebagai pionir dari teknologi ESEM, yang merupakan suatu inovasi besar bagi dunia mikroskop elektron serta merupakan kemajuan fundamental dari ilmu mikroskopi.
Deengan teknologi ESEM ini dimungkinkan bagi seorang peneliti untuk meneliti sebuah objek yang berada pada lingkungan yang menyerupai gas yang betekanan rendah (low-pressure gaseous environments) misalnya pada 10-50 Torr serta tingkat humiditas diatas 100%. Dalam arti kata lain ESEM ini memungkinkan dilakukannya penelitian obyek baik dalam keadaan kering maupun basah.
Sebuah perusahaan di Boston yaitu Electro Scan Corporation pada tahun 1988 (perusahaan ini diambil alih oleh Philips pada tahun 1996- sekarang bernama FEI Company) telah menemukan suatu cara guna menangkap elektron dari obyek untuk mendapatkan gambar dan memproduksi muatan positif dengan cara mendesain sebuah detektor yang dapat menangkap elektron dari suatu obyek dalam suasana tidak vakum sekaligus menjadi produsen ion positif yang akan dihantarkan oleh gas dalam ruang obyek ke permukaan obyek. Beberapa jenis gas telah dicoba untuk menguji teori ini, di antaranya adalah beberapa gas ideal dan gas lain. Namun, yang memberikan hasil gambar yang terbaik hanyalah uap air. Untuk sample dengan karakteristik tertentu uap air kadang kurang memberikan hasil yang maksimum.
Mikroskop refleksi elektron (REM)
Reflection Electron Microscope (REM), adalah mikroskop elektron yang memiliki cara kerja yang serupa dengan cara kerja TEM, namun sistem ini menggunakan deteksi pantulan elektron pada permukaan objek. Tehnik ini secara khusus digunakan dengan menggabungkannya dengan tehnik refleksi difraksi elektron energi tinggi (Reflection High Energy Electron Diffraction) dan tehnik Refleksi pelepasan spektrum energi tinggi (reflection high-energy loss spectrum - RHELS)
Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM)
Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM) ini adalah merupakan Variasi lain yang dikembangkan dari teknik yang sudah ada sebelumnya, dan digunakan untuk melihat struktur mikro dari medan magnet.
Pembuatan film dengan mikroskop ESEM
Dengan melakukan penambahan peralatan video maka pengamat dapat melakukan pengamatan dengan mikroskop elektron secara terus menerus pada obyek yang hidup.
Sebuah perusahaan film dari Perancis bahkan berhasil merekam kehidupan makhluk kecil dan memfilmkannya secara nyata. Dari beberapa film yang dibuat, film berjudul Cannibal Mites memenangkan beberapa penghargaan di antaranya Edutainment Award (Jepang 1999), Best Scientific Photography Award (Perancis 1999), dan Grand Prix Best Popular and Informative Scientific Film (Perancis 1999). Film ini ditayangkan juga di stasiun televisi Zweites Deutsches Fernsehen Jerman, Discovery Channel di AS dan Britania Raya. Kini perusahaan yang sama tengah menggarap film seri berjudul "Fly Wars" yang rata-rata memakai sekitar lima menit pengambilan gambar dengan ESEM Pada film tersebut dapat dilihat dengan detail setiap lembar bulu yang dimiliki lalat dalam pertempurannya.
Source: rewrite from Wikipedia
Kamu telah tahu bahwa sebuah mikroskop memiliki dua macam lensa, yaitu lensa okuler dan lensa objektif. Untuk menghitung perbesaran total suatu mikroskop, cukup kalikan:
perbesaran objektif x perbesaran okuler = perbesaran total
Misalnya:
10 x 8 = 80X
10 x 12,5 = 125X
40 x 8 = 320X
40 x 12,5 = 500X

Lantas bagaimana caranya mengetahui ukuran sel yang kita amati dengan mikroskop cahaya? Sebenarnya caranya gampang. Hanya saja cara ini tidak dapat digunakan untuk mengukur panjang suatu sel dengan tepat. Jadi hanya merupakan prakiraan saja. Berikut ini adalah cara mengukur panjang sel pada pengamatan dengan mikroskop cahaya.
Cara mengukur panjang sel pada pengamatan dengan mikroskop cahaya
- Siapkan sebuah penggaris dari bahan plastik yang bagus dan bersih.
- Lihatlah lensa obyektif pada mikroskop yang terdapat pada revolver. Umumnya ada empat lensa di sana dengan perbesaran masing-masing 4X, 10X, 40X, dan mungkin ada yang 100X. Gunakan lensa obyektif 10X dulu.
- Setelah menyesuaikan intensitas cahaya dengan mengatur cermin dan diafragma, tempatkan penggaris plastik tadi pada meja mikroskop di bawah lensa obyektif dan aturlah fokusnya sehingga garis-garis mistar tampak jelas. Ukurlah diameter lapangan pandang mikroskop dengan mengatur batas mistar sedemikian rupa. Umumnya hasil pengukuranmu sekitar 1,4 mm – 1,5 mm, tetapi bisa juga bervariasi bergantung jenis mikroskopnya. Ingatlah bahwa 1 mm = 1.000 micron. Jadi misalnya 1,4 mm = 1.400 micron. Catatlah diameter lapangan pandang yang telah kamu ukur. (lihat gambar di bawah)

- Sekarang tempatkan preparat yang akan diamati. Aturlah fokus dan cahaya dengan baik sehingga preparat bisa diamati dengan mikroskop secara jelas. Cobalah hitung ada berapa sel mulai batas lapangan pandang sebelah kiri hingga batas lapangan pandang sebelah kanan. Misalnya preparat yang kamu amati ada 8 sel, diameter lapangan pandang yang kamu ukur adalah 1,4 mm, maka panjang setiap sel = (1,4 x 1.000) / 8 = 175 micron. Jadi panjang setiap sel sekitar 175 micron.
Berikut ini tabel perkiraan diameter lapangan pandang mikroskop cahaya.
| Lensa Obyektif | Diameter lapangan pandang (prakiraan) | Perbesaran (lensa okuler 10X) |
| 4x | 4.0 mm (4.45) | 40x |
| 10x | 2.0 mm (1.78) | 100x |
| 40x | 0.4 mm (0.45) | 400x |
| 100x | 0.2 mm (0.178) | 1000x |
Lihat gambar berikut.

Itu adalah lapangan pandang mikroskop saat mengamati sel-sel bawang merah. Misalnya diameter pandang tersebut 2 mm dan diamati dengan lensa obyektif 10X, berapakah perkiraan panjang satu sel bawang merah?
Lapangan pandang pada perbesaran 40X
Jika kamu mengganti lensa obyektif dari 10X menjadi 40X maka lapangan pandang mikroskop menjadi seperempat kali (1/4X) lebih kecil. Mengapa? Ingat 10X / 40X = 1/4. Bila diameter lapangan pandang pada perbesaran 10X adalah 1.400 micron, maka diameter lapangan pandang pada perbesaran 40X adalah 1.400/4 = 350 micron. Jadi diameter lapangan pandang pada perbesaran 40X = 350 micron.
Silahkan jika ada pertanyaan atau komentar.
Setelah mengenal bagian-bagian mikroskop dan fungsinya, sekarang saya sharing cara menggunakan mikroksop yang benar. Petunjuk ini saya ambilkan dari Pustekkom Depdiknas.
Berikut ini cara menggunakan mikroskop yang benar.
| 1. Letakkan mikroskop di atas meja dengan cara memegang lengan mikroskop sedemikian rupa sehingga mikroskop berada persis di hadapan pemakai ! |
|
| 2. Putar revolver sehingga lensa obyektif dengan perbesaran lemah berada pada posisi satu poros dengan lensa okuler yang ditandai bunyi ‘klik’ pada revolver. |
|
| 3. Aturlah cermin dan diafragma untuk melihat kekuatan cahaya masuk, hingga dari lensa okuler tampak terang berbentuk bulat (lapang pandang). |
|
| 4. Tempatkan preparat pada meja benda tepat pada lubang preparat dan jepit dengan penjepit obyek/benda! |
|
| 5. Aturlah fokus untuk memperjelas gambar |
|
| 6. Apabila bayangan obyek sudah ditemukan, maka untuk memperbesar gantilah lensa obyektif dengan ukuran dari 10 X,40 X atau 100 X, dengan cara memutar revolver hingga bunyi klik. |
|
Apabila telah selesai menggunakan, bersihkan mikroskop dan simpanlah kembali ke dalam almari atau pada tempat yang tidak lembab.
Mikroskop adalah alat yang digunakan untuk melihat benda-benda mikroskopik/renik yang tidak dapat dilihat dengan mata telanjang. Sebelum praktikum menggunakan mikroskop, siswa harus paham bagian-bagian dan fungsi mikroskop. Artikel ini membahas mengenai mengenal bagian-bagian mikroskop dan fungsinya.
Ada bermacam-macam jenis dan bentuk mikroskop. Mikroskop cahaya adalah mikroskop paling sederhana yang dapat digunakan untuk memperbesar citra hingga puluhan kali. Mikroskop elektron adalah mikroskop yang menghasilkan citra beresolusi tinggi hingga ribuan kali.
Mengenal bagian-bagian mikroskop dan fungsinya
Mikroskop cahaya modern yang biasa digunakan di sekolah memiliki bagian utama berupa lensa objektif yang letaknya dekat dengan obyek yang akan diamati. Lensa obyektif melekat pada bagian yang disebut revolver. Revolver ini dapat diputar, dan berguna sebagai alat pemindah lensa.
Jenis lensa yang lain adalah lensa okuler terletak dekat dengan mata pada saat mikroskop digunakan. Lensa obyektif ada beberapa buah, dan memiliki pembesaran masing-masing 5X, 10X, 45X, dan 100X. Sedangkan lensa okuler hanya 1 buah atau 2 buah, dan mempunyai pembesaran 5X, 10X, atau 15X. Kedua lensa pada mikroskop dihubungkan oleh suatu bagian berbentuk tabung. Mikroskop yang memiliki sebuah lensa okuler, disebut mikroskop monokuler. Mikroskop yang memiliki dua lensa okuler, dinamakan mikroskop binokuler.



Mikroskop binokuler, monokuler, dan mikroskop elektron
Contoh image beresolusi tinggi hasil scanning mikroskop elektron bisa dilihat di sini.
Untuk mengatur jarak objek dengan lensa sehingga diperoleh bayangan yang jelas, lensa objektif dapat dinaikkan menjauhi objek ataupun diturunkan mendekati objek. Untuk menggerakkan lensa objektif ini digunakan bagian mikroskop yang disebut pemutar. Ada dua macam pemutar yaitu pemutar halus dan pemutar kasar. Pemutar halus digunakan untuk menggerakkan lensa objektif secara pelan, sedangkan pemutar kasar digunakan untuk menggerakkan lensa objektif secara cepat.
Bagian-bagian mikroskop dan fungsinya
Berikut ini ditunjukkan bagian-bagian mikroskop.

- A. Lensa okuler = lensa yang dilihat/diintip
- B. Tabung mikroskop = bagian yang menghubungkan lensa okuler dengan lensa obyektif
- C. Revolver = pemutar yang digunakan untuk mengubah perbesaran lensa obyektif
- D. Lensa objektif perbesaran lemah
- E. Lensa objektif perbesaran kuat
- F. Meja mikroskop = tempat meletakkan specimen / preparat yang diamati
- G. Klip = penjepit object glass
- H. Kaki mikroskop
- I. Cermin = memantulkan cahaya pada lensa obyektif agar pengamatan preparat lebih jelas
- J. Diafragma = bagian yang digunakan untuk mengatur intensitas cahaya yang masuk ke lensa obyektif
- K. Lengan mikroskop atau pegangan
- L. Pemutar halus = bagian yang digunakan untuk menggerakkan (menjauhkan/mendekatkan) lensa obyektif terhadap preparat secara pelan/halus
- M. Pemutar kasar = bagian yang digunakan untuk menggerakkan (menjauhkan/mendekatkan) lensa obyektif terhadap preparat secara cepat





